失效模式和失效机理
导致失效的原因很多：元器件本身的缺陷、电路设计不当、使用不当及其他因素等。“对于失效的电子元器件指出其拒收原因，失效的现象和形式，不需要验证和深入说明其物理原因，这就是失效模式” 。
“失效机理是说明电子元器件失效的物理(或化学)本质。从开始失效的原始缺陷或退化进入失效点的物理过程，进一步确定导致失效的质量缺陷、表面缺陷及体缺陷、结构缺陷，确定电学、金属学、化学及电磁学等方面的机理[8]”。
两者的关系可以用图5-3来表示。失效模式和失效机理是两个不同的概念，失效模式是失效状态的区别，而失效机理是失效发生的过程，是因果关系。失效模式不过是对出现的
失效或异常的状态进行分类，存在着尽管失效模式相同而机理不同的情况，也有从一个机理产生几个失效模式的情况。
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